同一器件同一时间完成多种测试:功能测试,V-I曲线测试,温度拐点系数测试,连接状态测试,管脚电压测试等.

　　图形化元件测试库的编辑,输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑测试完成,方便快捷的建立起测试库中没有的元件库.

　　整板测试非常简单,通过图形化的测试库编辑器,根据电路板原理,定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号,快速建立板测试库,快速批量检测电路板的功能.

　　逻辑电平阈值自动扫描,确定板系统逻辑电平阈值零界值,设定循环测试来发现不稳定的故障元器件.

　　逻辑电平阈值自定义.可以设定非标准的逻辑电平阈值,检查不稳定的元器件.

　　短路电阻测量功能:三段低电阻测量范围,可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小,此功能可以用以检查电路板线路的电阻值,及检查短路点.

　　输出逻辑时序图形显示,具体时序电压值显示,方便掌握具体测试信息.

　　V-I曲线测试功能:可针对元器件直接进行测试,曲线电压扫描范围:-10v~+10v;测试电压可由2.5到5V步阶式调整,可调整为非对称电压扫描信号,正负电压可以不*,例如:-2.5v~+10v zui大限度地**测试的**性.其输出电流由系统自动调整设定.扫描信号可达几十种.

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