赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160ERSeries简介：

1.X-RAYINSPECTIONSYSTEM：

搭载Micro-focusOpenTube(160kV)和FlatPanelDetector，可获取高清晰，高倍率图像，可灵活应用在分析及工艺流程检中的缺陷检查。此外，通过特别的减震机构，可稳定且快速的分析不良产品。可稳定的实现2.5DTilt检测，也可以根据用户及各种Application选择不同Option。

2.X-raySimple&Easy2.5D：

1）Max可实现900x900mm的Tablesize，可检测大型PCB和LED。

2）通过采用双臂支撑的Z轴结构方式，可轻松解决震动引起的图像残影问题。

3）Detector倾斜角度较大可达70°,可通过Rotation轴轻松获取2.5D图像。

4）通过DetectorR轴结构的改善增加了检测区域及机构的稳定性。

赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160ERSeries：搭载Micro-focusOpenTube(160kV)和FlatPanelDetector，可获取高清晰，高倍率图像，可灵活应用在分析及工艺流程检中的缺陷检查。

x-ray检测设备

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http://www.secengcn.com/Products-37416134.html

https://www.chem17.com/st560481/product_37416134.html