SMPS扫描电迁移率粒径谱仪适用于高气溶胶浓度的Palas®通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两种版本。U-SMPS带有短分类柱（1700型），特别适合2-400nm范围内的精度粒度分布测量。Palas®U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO15900中定义称为差动迁移率分类器（DEMC），也称为差动迁移率分析仪（DMA）]，根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并传递到出口。然后，在下游的Charme®气溶胶静电计中测量这些粒子携带的电荷。

气溶胶静电计的一个主要优点是可以进行非常快速的测量。但是，这种方法需要很高的成本。因此，其适用性被限制于高气溶胶浓度（例如，燃烧过程或颗粒发生器的下游）。可以通过物理参数直接追溯每时间单位（流量）的电荷测量值。其结果是，此方法主要用作凝结粒子计数器（例如UF-CPC）校准期间的参考。

U-SMPS使用触摸屏图形用户界面进行操作。可以在短短30秒内执行单粒子分布扫描，或者多在128个尺寸通道中执行扫描，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（丰富的统计和平均值计算）和导出功能。

U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口连接到计算机或网络。Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和气溶胶静电计。

U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要，特别是对于校准。所有组件都需通过严格的质量保证测试，并在内部组装。

粒径谱仪

https://www.chem17.com/st465083/list_2191390.html

https://www.chem17.com/st465083/product_35551753.html